深圳市嘉士達精密儀器有限公司
詳細摘要： SE500橢偏儀薄膜測量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-05-22 在線留言
詳細摘要： Suragus在線監(jiān)測面阻測量儀(渦流原理)產(chǎn)品簡介Suragus面阻測試儀來自德國，其通過渦流的原理測量材料面阻值，該技術是一種非接觸式面阻測試技術且測試準確...
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詳細摘要： SE300橢偏儀400nm到1000nm測量薄膜材料厚度產(chǎn)品簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、N...
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詳細摘要： SE200BA-M300橢偏儀測量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設備產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質表征的儀器，主要用來測量薄膜材...
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詳細摘要： Suragus非接觸式手持式面阻測試儀產(chǎn)品簡介Suragus面阻測試儀來自德國，其通過渦流的原理測量材料面阻值，該技術是一種非接觸式面阻測試技術且測試準確穩(wěn)定，...
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詳細摘要： EddyCusTF便攜式1010系列接觸式手持面阻測試儀產(chǎn)品簡介EddyCusTF便攜式1010是一種方便的便攜式測量設備，用于在生產(chǎn)或現(xiàn)場對大型玻璃和箔片進行...
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詳細摘要： 單點測量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測量設備EddyCusTFlab2020系列產(chǎn)品簡介EddyCusTFlab2020系列允許在非接觸模式下對導電薄膜進行手動...
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詳細摘要： 非接觸式單點薄層電阻測試儀EddyCusTFlab2020SR產(chǎn)品簡介EddyCusTFlab2020SR是一種非接觸式單點薄層電阻測量系統(tǒng)
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詳細摘要： 非接觸式單點金屬測厚儀EddyCusTFlab2020MT產(chǎn)品簡介EddyCusTFlab2020MT允許對透明和非透明層進行非接觸式金屬厚度測量
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詳細摘要： 非接觸式電氣各向異性和薄層電阻測試儀TFlab2020A產(chǎn)品資料EddyCusTFlab2020A（各向異性）用于測量特定方向的電各向異性和薄層電阻
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